Ничего не найдено...

Страница Twitter
Группа Facebook
Группа Вконтакте

Конфокальный микроскоп NIKON ECLIPSE C1 Plus

Конфокальный микроскоп NIKON ECLIPSE C1 Plus

Поставщики и цены:

4 поставщикаконтакты скрыты

Конфокальный микроскоп NIKON ECLIPSE C1 Plus

Конфокальный микроскоп NIKON ECLIPSE C1 Plus - это сверхкомпактный и легкий модульный конфокальный микроскоп, с возможностью получения высококачественных цифровых изображений.

Усовершенствованная оптика сканирующей головки C1 Plus, расширяет возможности микроскопии до 400 нм, а двухосевой сканер обеспечивает более быструю обработку изображений.

Система включает в себя также устройство вращения по осям сканирования Х и Y и новые лазерные модули, обеспечивающие улучшенную регулировку интенсивности лазерного излучения.

Функциональные особенности:

- Оптика высочайшего качества

Специалисты Nikon объединили первоклассную оптику и электронику для создания конфокальной системы, которая обеспечивает непревзойденные разрешение, контраст и яркость флуоресцентных изображений.

- Широкий выбор лазерных излучателей

Лазерная установка предназначена для установки до 3-х различных лазеров, благодаря чему пользователи могут исследовать различные флуоресцентные образцы.

Кроме того, смена светофильтров в зависимости от типа используемых флуоресцентных красителей, выполняется легко и просто. Поэтому, при изменении условий исследований изменяется и сам микроскоп. Могут использоваться четыре лазерные установки c непосредственной модуляцией диодными лазерами и акусто-оптической модуляцией излучением других лазеров.

Nikon предлагает аргоновые ионные лазеры, гений-неоновые лазеры, диодные лазеры и твердотельные лазеры с диодной накачкой.

- Одновременная регистрация сигналов по 3 каналам

Система С1 Plus поддерживает практически все современные способы обработки изображений, включая 3-х канальную флуоресценцию, 3-х канальный Plus DIC, создание изображений в заданный промежуток времени и пространственный анализ.

- Идеальное оборудование для исследований по методу восстановления флуресценции после фотообесцвечивания (FRAP)

- Исследование по методу восстановления флуоресценции после фотообесцвечивания (FRAP) - это обесцвечивание исследуемой области клетки при облучении интенсивным лазерным излучением и наблюдение процесса восстановления флуоресценции данной области.

Этот метод широко применяется для измерения скорости молекулярной диффузии и движения молекул. Система С1 Plus обеспечивает точное наведение лазерного пучка исследуемую область.

- Расширенные возможности сканирования

Система С1 Plus имеет ряд функций сканирования, что позволяет быстро и легко создавать и обрабатывать изображения:

Одновременное сканирование по двум направлениям: Для повышения скорости сканирования.

Вращение области сканирования: При сканировании длинных образцов, как например нейронов, направление сканирования может быть изменено без поворотов платформы XY.

Установка времени регистрации изображений: Позволяет устанавливать различное время начала регистрации изображений.

- Модульная конструкция. Удобное управление. Возможность модификации

Модульные компоненты: Система легко комплектуется дополнительными устройствами и проста в обслуживании.

Предварительная калибровка модулей. Не требуется дополнительная калибровка при установке и запуске оборудования.

Компактная конструкция: Не занимает много места на лабораторном столе. Система С1 Plus оснащена самой маленькой и легкой в мире сканирующей головкой.

Интуитивно-понятное ПО: Установка и изменение большинства параметров осуществляется одним щелчком мыши.

Четырехпозиционный модуль точечных отверстий: Выбор апертуры точечного отверстия осуществляется с помощью компьютера, что дает пользователю оптимальное соотношение между разрешением и оптической толщиной, в зависимости от вида исследования.

- Возможности исследований по методу TIRF

Лазерная система Nikon для исследований по методу флуоресценции, основанной на полном внутреннем отражении (TIRF) может быть использована как самостоятельный прибор для создания и обработки изображений, а также в сочетании системами флуоресценции и/или с системой конфокальной микроскопии, как, например, C1-Plus или C1si.

При микроскопических исследованиях по методу флуоресценции, основанной на полном внутреннем отражении (TIRF) повышается отношение сигнал/шум, за счет возбуждения только тех молекул образца, которые расположены в тонком слое покровного стекла, в котором происходит затухание флуоресценции, толщиной 100 нм. Этот метод дополняет возможности конфокальной микроскопии.

Лазерная система Nikon TIRF устанавливается на микроскоп вместо стандартного флуоресцентного осветителя. В одной установке объединены оба метода - TIRF и широкопольная флуоресцентная микроскопия.

Компания Nikon разработала два превосходных объектива-планапохромата для исследований по методу TIRF с увеличением 60х и 100х и числовой апертурой 1.49.

- Это самая высокая числовая апертура объективов с масляной иммерсией, когда-либо выпускаемых в мире.

- Возможности исследований по методу восстановления флуоресценции после фотообесцвечивания (FRAP)

Благодаря наличию макро-программы, система может использоваться для исследований по методу восстановления флуоресценции после фотообесцвечивания (FRAP).

Лазерный луч точно фокусируется на область исследования клетки, выбираемую пользователем (ROI) для фотообецвечивания. Заданная область может иметь форму круга, эллипса, прямоугольника, точки или линии.

Также пользователь может задать зоны внутри кольца в форме тора, и проанализировать точки внутри и за пределами заданной области после фотообесцвечивания лазерным лучом.

Конфокальный микроскоп NIKON ECLIPSE C1 Plus Технические характеристики

- Сканирующая головка:

Сканирующая головка со сменными дихроичными зеркалами, выбираемыми пользователем в зависимости от типа используемого лазерного излучателя. Поворотный блок с 4 точечными отверстиями, контролируемыми ПК

- Сканирование:

Скорость сканирования: До 3 кадров/сек. Одновременное сканирование по двум направлениям. Поворот плоскости сканирования с помощью программы в пределах F.N.17. Линейное сканирование по оси Х; сканирование по оси тета; 2D X/Y, 3D X/Y/Z, 3D X/Y/T, 4D X/Y/Z/T; Изменение масштаба сканирования от сканирования полного поля до одного пикселя.

- Фотоприемное устройство:

Отдельный фотоприемник включает два или три ФЭУ с повышенной чувствительностью в области красного, с боковым окном; дополнительно устанавливается датчик оптического пропускания с собственным встраиваемым мини-ФЭУ с оптоволоконным выходом, Фотоприемный модуль соединен со сканирующей головкой с помощью многомодового оптоволоконного жгута с низкими потерями; эмиссионные фильтры и дихроичные зеркала смонтированы на сменных блоках флуоресцентных светофильтров Nikon EF-4.

- Каналы фотоприемника:

4 канала могут быть использованы одновременно или последовательно; 2 или 3 канала для конфокальной микроскопии; 1 канал передачи данных лазерного сканирования.

- Лазерный модуль:

Модуль S-типа, рассчитанный на установку двух или трех лазеров, ослабление - фильтрами нейтральной плотности;

Серия ЕХ, рассчитанный для установки трех лазеров, непрерывное ослабление, вручную, без фильтров нейтральной плотности или с дополнительными акусто-оптическими модуляторами (АОМ). Также возможна установка четвертого лазера с непосредственной модуляцией диодным лазером и акусто-оптической модуляцией перестраиваемого фильтра AOTF других лазеров. Все лазерные пучки объединяются в лазерной установке и направляются через армированный оптический фильтр, поддерживающий одномодовую поляризацию.

- Лазеры:

Модулированный диодный лазер, ?=408нм, 40мВт;

Модулированный диодный лазер, ?=440нм, 17мВт

Твердотельный лазер ?=488нм, 10 мВт;

Одноволновый аргоновый ионный лазер ?=488нм, 10мВт;

Многоволновый аргоновый ионный лазер ?=488 нм и 514 нм, 40 мВт;

Гелий-неоновый лазер ?=543нм, 1.5мВт; Твердотельный лазер с диодной накачкой ?=561 нм, 10 мВт; Гелий-неоновый лазер ?=594m, 2мВт, Гелий-неоновый лазер ?=633нм, 5 мВт; Диодный лазер с модулированной добротностью ?=638нм,10 мВт

- Управление перемещением по оси Z: Шаг перемещения 50нм на моторизированных микроскопах Nikon, включая Eclipse 90i и TE2000E;

Шаг перемещения 50нм при использовании дополнительного моторизированного устройства фокусировки.

- Совместимость с микроскопами: Прямые микроскопы проходящего света Nikon серии Eclipse 80i и 90i, Прямые микроскопы проходящего света Nikon серии Eclipse E600, E600FN, E800, и E1000;Инвертированные микроскопы Nikon серий Eclipse TE2000E, TE2000U, TE2000S и TE300

- Электронное оборудование:

Выделенный блок управления включает все электронные устройства для моторизации управления конфокальной системой C1 Plus. Связь между блоком управления и ПК осуществляется через карты Ethermet 100 BaseT;

Высокоэффективная сетевая рабочая станция с ПК; Монитор с высокой разрешающей способностью 1920 х 1200 пикселей.

- Программное обеспечение: ПО EZC1 производит обработку и анализ изображений. Стандартный комплект поставки включает следующие модули: функция усреднения, включая усреднение по качеству, каналы, Z-стек, временные последовательности, окно навигатор; устройство трехмерного графического отображения и визуализации; Данные затухания флуоресценции как функция времени с графическим отображением на мониторе, приложения Visual Basic.

- Оптика: Рекомендуемые объективы: Nikon CFI60 VC Plan Apo, Plan Apo, Plan Apo TIRF, Plan Fluor , S Fluor и W Fluor.

Назначение оборудования — Конфокальный микроскоп NIKON ECLIPSE C1 Plus

 Спектральные и оптические приборы474 наименования, 27 производителей
  Медицинские микроскопы445 наименований, 23 производителя
   Видеомикроскопы23 наименования, 5 производителей
   Конфокальные микроскопы8 наименований, 2 производителя

Отзывы и комментарии:

Напечатать Просмотров: 556
Поделиться:

Получить полный доступ

Полный доступ на 1 сутки 50руб.

Top