Ничего не найдено...

Страница Twitter
Группа Facebook
Группа Вконтакте

Система микроскопии сверхвысокого разрешения NIKON N-SIM Super-Resolution

Система микроскопии сверхвысокого разрешения NIKON N-SIM Super-Resolution

Никто еще не установил цену.Пример размещения цен -->

ООО "Поставщик"10 000,00 руб.Бесплатная доставка

Дата 17.01.2018+7 (495) 000-00-00все цены и контакты

Увидеть все цены...

Поставщики зарегистрированные в справочнике:

Всего 4 поставщикаконтакты скрытыПолучить полный доступ

Система микроскопии сверхвысокого разрешения NIKON N-SIM Super-Resolution

Система микроскопии сверхвысокого разрешения NIKON N-SIM Super-Resolution - Визуализация клеточных структур и молекулярной активности при разрешении, недоступном для обычной световой микроскопии.

Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti.

Уникальные оптические технологии и методы производства.

Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.

Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.

- Почти в два раза более высокое разрешение по сравнению с обычными оптическими микроскопами

Благодаря использованию лицензированной UCSF технологии "микроскопии структурированного освещения" система микроскопии N-SIM от Nikon, оснащенная прославленым объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1,49), разработанным при помощи уникальных оптических технологий и методов, может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.

- Максимальная скорость среди аналогов – 0,6 с/кадр

Система N-SIM очень эффективна для получения изображений клеток в режиме реального времени с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.

- Метод получения изображений TIRF-SIM

Новая методика освещения TIRF-SIM позволяет проводить наблюдения по методу флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с более высоким разрешением, чем обычные микроскопы TIRF, и получать более детальную информацию о зонах вблизи клеточных мембран.

Методика 3D-SIM

Новая методика освещения 3D-SIM позволяет делать оптические срезы образцов, за счет чего возможна визуализация более сложных клеточных структур при более высоком пространственном разрешении до 20 мкм.

Назначение оборудования — Система микроскопии сверхвысокого разрешения NIKON N-SIM Super-Resolution

Отзывы и комментарии:

Напечатать Просмотров: 63
Поделиться:
Top